La Microscopía Electrónica de Barrido (MEB) es una de las técnicas más versátiles en el estudio y análisis de las características microestructurales de objetos sólidos. Por tal motivo y teniendo en cuenta que en los últimos años se ha vuelto una práctica de uso rutinario, el personal del Equipo Científico de Investigaciones Fiscales (ECIF) recibió una capacitación por parte del Centro Integral de Microscopía Electrónica (CIME), en el predio de la finca El Manantial.  

El coordinador del ECIF, Eugenio Agüero Gamboa, comentó que “es un avance tecnológico importante y seguimos cumpliendo con los objetivos que se propuso el Ministro Público Fiscal, Edmundo Jiménez, de acercar tecnología a las investigaciones penales. Es un gran logro para el Ministerio y para las investigaciones criminales, sobre todo en aquellas que se utilizan armas de fuego”. El funcionario judicial detalló que: “el Microscopio de Barrido Electrónico lo que hace es detectar residuos de disparo y conocer si una persona ha disparado un arma para revelar la posible existencia de plomo, bario y antimonio. Beneficia a la investigación porque permite un mayor grado de certeza. Tiene un porcentaje, según manifiesta el FBI, de un 90% de efectividad en armas cortas”.

La responsable científica del Centro Integral de Microscopía Electrónica, Virginia Albarracín, mencionó: "estamos haciendo una capacitación relacionada con un software nuevo en base a un acuerdo con el Ministerio Público Fiscal y el Conicet. Lo que hace este software es buscar unas determinadas partículas y después confirmar, por un análisis químico elemental, que se trata de partículas que provienen del disparo de un arma de fuego”.

Sobre el CIME

El Centro Integral de Microscopía Electrónica (CIME) constituye un instituto pionero en Microscopía en Argentina fundado en 1982 en colaboración con la UNT y el Conicet, siendo actualmente uno de los servicios centrales del CCT- Conicet Tucumán. (Comunicación del Ministerio Público Fiscal)